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太陽能電池分類：圖一：帶EVA箔和玻璃的太陽能電池放置在PIDcon中電位誘導衰減（PID）是光伏電站的一個嚴重的可靠性問題。因此，調查其產品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產商能夠在太陽能電池的生產鏈中盡可能快地測試他們的產品，并調查封裝材料。因此，太陽能電池及其SiNx層的影響可以立于EVA和玻璃的影響進行研究。請注意，這里考慮的PID是太陽能電池由于高電壓應力引起的漏電電流（PID-s）而產生的分流。為了對太陽能電池進行分類，使用敏感的EVA和玻璃是很...

EVA評估不同的EVA薄膜與來自同一批次和同一玻璃的太陽能電池的比較PIDcon的測量設置PIDcon可以通過使用一個模擬模塊的樣品堆來調查EVA箔對PID敏感性的影響。用戶只需將太陽能電池、需要調查的EVA箔和玻璃放在上面。當然，必須使用同一批次的太陽能電池和同一玻璃進行比較。在圖1所示的例子中，兩種EVA薄膜的PID敏感度有明顯的差異。EVA1比EVA2更適合用于模塊。

根據IEC62804標準PIDcon的測量設置PIDcon測量的典型結果電勢誘導退化（PID）是光伏電站的一個嚴重的可靠性問題。因此，調查其產品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產商能夠在生產鏈中盡早地測試他們的產品，并調查封裝材料。PIDcon允許對標準生產單元進行常規質量控制，測試新工藝、材料或層的變化，并對各種模塊步驟進行鑒定。請注意，這里考慮的PID是由于高電壓應力引起的漏電電流（PID-s）導致的太陽能電池的分流。PIDcon的結構實際上與IEC標準...

論文來源：K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleａndirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要：雙面PERC電池背面PID會導致嚴重的功率損失。與單面PERC太陽能電池相比，可以發生可逆的去極化相關電位誘導衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導衰退（PID-c）。研究表明，一個可靠的評估太陽能電池功率損失的方法需要一種改進的PID測試方法，需要在高壓測試上附加光照。此外，還需要在測試方案中...

衍射數據庫卡片又稱為晶體結構卡片或者晶胞卡片，是一種用于描述晶體結構信息的標準化格式。這些卡片通常包含著晶體學家在分析晶體時所得到的重要數據，例如晶格參數、空間群、原子坐標等等。衍射卡片可以作為研究晶體結構的基礎，也可以作為共享晶體結構信息的重要途徑。衍射數據庫卡片最初由國際晶體學聯合會(IUCr)于1965年提出，并于1985年進行了更新。目前有多個常用的衍射卡片標準，包括CIF(CrystallographicInformationFile)、PDB(ProteinDat...

X射線三維顯微鏡(X-ray3Dmicroscopy)是一種可以在納米尺度下對樣品進行成像的技術。它能夠提供高分辨率的三維結構信息，能夠在材料科學、生物醫學、納米技術等領域發揮重要作用。X射線三維顯微鏡的工作原理基于X射線的特性。當X射線射入樣品時，樣品中的物質會吸收、散射或反射部分光子。通過探測器記錄這些光子，就可以推斷出樣品的三維結構。與傳統的兩維投影成像不同，三維顯微鏡可以獲取大量的數據，并使用計算機算法將這些數據轉換為三維圖像。這種技術通常需要使用X射線聚焦光束，以獲...

晶圓片晶錠壽命檢測儀是一種重要的設備，用于測試半導體器件的質量和壽命。它是半導體工業中不可缺少的關鍵設備之一。晶錠壽命檢測儀采用高精度測量技術，能夠檢測和分析晶圓片和晶錠的性能、品質和壽命。在半導體工業中，晶圓片和晶錠是制造芯片的主要原材料，所以其質量和壽命非常重要。晶錠壽命檢測儀可以通過對晶圓片和晶錠進行測試，評估其質量是否達標，并選擇適合的材料進行生產。晶圓片晶錠壽命檢測儀主要由測試器、控制系統和軟件組成。測試器是檢測儀的核心部分，它可以對晶圓片和晶錠的性能和壽命進行精準...

PDF衍射卡片，顧名思義，是一種使用衍射原理來讀取信息的卡片。這種卡片的設計利用了特殊的圖案，當這些圖案與光線相遇時，會產生衍射光，從而生成一些奇妙的圖像和信息。衍射卡片的制作非常簡單，只需將需要顯示的圖案印在卡片上，并將卡片與光源垂直放置，便可展現出獨特的效果。PDF衍射卡片在生活中有很多實用的應用，如：用于身份驗證，防偽和保安系統。此外，衍射卡片也被廣泛用于教育和娛樂領域中，例如制作幻覺圖案、探索光學奧秘等等。在教育領域中，衍射卡片常常被用來幫助學生了解光學原理。通過觀察...